Thickness measurement of soft thin films on periodically patterned magnetic substrates by phase difference magnetic force microscopy

Francesco Ciccarello, Natalizi, Rossi, Dong, Angeloni, Marianecci, Pantanella, Berlutti, Passeri

Risultato della ricerca: Article

14 Citazioni (Scopus)
Lingua originaleEnglish
pagine (da-a)96-106
Numero di pagine11
RivistaUltramicroscopy
Volume136
Stato di pubblicazionePublished - 2014

All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Atomic and Molecular Physics, and Optics
  • Instrumentation

Cita questo