Lingua originale | English |
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Pagine | 184-184 |
Stato di pubblicazione | Published - 2006 |
Structural inhomogeneity of Ge-doped amorphous SiO2 probed by photoluminescence lifetime measurements under synchrotron radiation.
Risultato della ricerca: Other
Risultato della ricerca: Other
Lingua originale | English |
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Pagine | 184-184 |
Stato di pubblicazione | Published - 2006 |