Structural inhomogeneity of Ge-doped amorphous SiO2 probed by photoluminescence lifetime measurements under synchrotron radiation.

Marco Cannas, Gianpiero Buscarino, Simonpietro Agnello, Fabrizio Messina

Risultato della ricerca: Other

Lingua originaleEnglish
Pagine184-184
Stato di pubblicazionePublished - 2006

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