Lingua originale | English |
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pagine (da-a) | 1-5 |
Rivista | Surface and Interface Analysis |
Volume | 2007 |
Stato di pubblicazione | Published - 2007 |
Electrical, chemical and morphological characterization of tantalum nitride thin film resistors deposited at low temperature by reactive sputtering for plastic electronic applications
Bruno Giuseppe Pignataro, Salvatore Di Marco
Risultato della ricerca: Article › peer review