| Lingua originale | English |
|---|---|
| Pagine | 1-1 |
| Numero di pagine | 1 |
| Stato di pubblicazione | Published - 2009 |
Characterization of synthetic Fe-Mg silicate spinels in the gamma-(Mgx,Fe1-x)2SiO4 series by means of single crystal XRD (x=0,0.4,0.5)
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