Lingua originale | English |
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Titolo della pubblicazione ospite | Modern Research and Educational Topics in Microscopy |
Pagine | 737-746 |
Stato di pubblicazione | Published - 2007 |
Atomic Force Microscope Nanoindentations to Reliably Measure the Young's Modulus of Soft Matter
Stefano Piccarolo, Davide Domenico Tranchida
Risultato della ricerca: Chapter